Omega掃描 一種用于確定晶體取向（晶向）的測量技術(shù)
單晶及取向性材料的生長和應(yīng)用過程中相對于外表面或其它幾何特征的表征方法。晶體取向測試和單晶質(zhì)量評估越來越受到研究員的重視。
X射線衍射法是檢測材料晶體結(jié)構(gòu)的主要手段，但是常規(guī)X射線衍射法和儀器由于探頭只能接收到晶體法線在衍射平面內(nèi)的晶體眼射線，因此衍射圖上只出現(xiàn)一個晶面的強衍射峰，或者一個衍射峰也不出現(xiàn)。想要得到完整晶格取向圖譜往往需要添加織構(gòu)分析附件或者三位旋轉(zhuǎn)臺，手工設(shè)置旋轉(zhuǎn)角度，重復(fù)定向測量。此過程復(fù)雜，并且不易操作。